KEM-KEE-KED系列校准器

　校准器的机械设计特点:

　通用高精度标定器

　精度高达 0,1µm/ 0,01µm通过粗调和精调两个步骤完成

　位移测量标定

　性价比和高

该模型校准器有以下两种型号：

KED-1校准起始点引伸计满量程 2,5%，误差± 0,5 µm.

KED-2校准起始点引伸计满量程 1%，室温 20°C ± 1°C.下误差± 0,1 µm

两种型号校准器共同优势是快速、方便、校准精度高。我们的校准器已经可以实现 0,05 µm 变化直接从 7 位数显的记录器上读出。同时配有 V24/RS 232- C 的数据传输线，可以用于进一步的数据分析，修正及存储。通过精细的校准步骤，可以获得引伸计测试中应变范围的高分辨率。结合使用信号调节器增益功能，是可以实现的.

校准器的机械设计特点。

• 高刚度测量基础，避免引伸计作用力造成的校准误差。

• 可任意调节间隙和拉力的测量车体是特殊的线性可滑移的球体构成。任意经频繁使用造成的间隙可以通过间隙补偿螺丝调整。

• 测量车的测量原理是微调测量轴，非常精准的测量系统。

• 无间隙千分尺主轴通过特殊的硬质化钢球按钮安装到测量车体体上。

• 其他类型的校准器不会存在角度（余弦）误差，只可能存在由于其几何设计和加工及磨损产生的误差 。

• 所有要校准的引伸计可以水平安装在测量车体上。

• 模块化设计方便以后校准单元 KEM or KED 的升级改造。

SANDNER 公司多年对校准器的改进，以合理的方式可以满足不同精度等级校准的需求。

Model KEM

有微调测量轴的测量车，测量读数达± 1 µm 的校准器。引伸计通常标定起点为其允许的最大量程的 5%

Model KEE

模型 KEM，一整套的 0 级滑块，保存在专用存储盒内。将模型 KEM 与滑块结合使用可以确保± 0,5 µm 的精度，引伸计测量起始点满量程 2,5%